日本J-RAS 500V离子迁移实验装置

日本J-RAS 500V离子迁移实验装置用途

离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ），经过长时间的测试（1 ～1000  小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ），并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF  试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ ION MIGRATION TESTING ）

在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。

适用规格 ： JPCA- - ET01- - 2001

500Vの印加電圧で試験可能！エレクトロケミカルマイグレーションテスター
絶縁抵抗測定器　ECM-500シリーズ

製品の特⻑

1V〜500Vのワイド印加電圧&CH個別電圧出力で様々なサンプルの試験が可能

CH個別計測回路搭載により50msec/CHの高速スキャン処理

応答速度100nsec以下の瞬時リーク電流検出回路でリークタッチ現象を確実にキャッチ

最大100CHの筐体は小型軽量で場所を選ばず設置でき移設も容易

チャンバー扉開の接点利用で緊急停止または一時停止を行える安全機能

はんだ付け作業の負担を減らしミスを防ぐCH別カラーケーブルを採用

省電力の専用設計で130VAの省エネを実現(100CH実装)

シンプルで使いやすい専用ソフトウェア