| 品牌 | 其他品牌 | 产地 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 否 |
Analysis TechInc.成立于1983年,坐落于波士顿北部,是电子封装器件可靠性测试的国际设计,制造公司。创始人JohnW.Sofia是美国麻省理工的博士,并且是提出焊点可靠性,热阻分析和热导率理论的专家。发表了很多关于热阳测试于分析,热导率及焊点可靠性方面的论文。
美国ANATECH瞬断监测仪 特点:
阈值电阻范围:100到5000ohms,用户可调节。
最小事件持续时间:200ns
通道探测电流:小于1.2MA
系统可同时使用64、128、192和256个通道
RS232C串口用于将数据传输到个人电脑(线包括在内)
规格参数:
阈值电阻范围:100到4000ohms (low);300到5000ohms(high)
通道电流源最大默认值:0.6volts, 9.8volts(high)
最大通道敏感电流:1.2mA maximum
典型阈值电阻公差:±4%
最大阈值电阻公差:±10%
典型事件持续敏感度:200nS
最小持续时间检测公差:±10%
电源电压:100/115/220 VAC 50/60Hz

美国ANATECH瞬断监测仪 应用场景
电子制造:在电子产品的生产过程中,用于检测电路板、电子元件等在制造过程中可能出现的瞬断问题,确保产品质量。
通信领域:对通信线路和设备进行监测,及时发现并定位通信过程中的瞬断故障,保障通信的稳定性和可靠性。
航空航天与汽车电子:在这些对可靠性要求*高的领域,用于监测电子系统的瞬断情况,预防因瞬断导致的系统故障和安全事故。