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ECM-500-日本J-RAS 500V离子迁移实验装置

供应数量:43

发布日期:2021/8/19

有效日期:2022/8/19

原 产 地:

已获点击:43

发邮件给我们:346289480@qq.com

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  • 500Vの印加電圧で試験可能!エレクトロケミカルマイグレーションテスター
    絶縁抵抗測定器 ECM-500シリーズ

  • 製品の特⻑

  • 1V〜500Vのワイド印加電圧&CH個別電圧出力で様々なサンプルの試験が可能

  • CH個別計測回路搭載により50msec/CHの高速スキャン処理

  • 応答速度100nsec以下の瞬時リーク電流検出回路でリークタッチ現象を確実にキャッチ

  • 最大100CHの筐体は小型軽量で場所を選ばず設置でき移設も容易

  • チャンバー扉開の接点利用で緊急停止または一時停止を行える安全機能

  • はんだ付け作業の負担を減らしミスを防ぐCH別カラーケーブルを採用

  • 省電力の専用設計で130VAの省エネを実現(100CH実装)

  • シンプルで使いやすい専用ソフトウェア

  • 用途

  • プリント基板、はんだ、樹脂、絶縁材料等のマイグレーション評価。
    最大500Vの印加電圧によりカーエレクトロニクス関連メーカーの試験要求にも対応。


离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), , 经过长时间的测试(1 ~1000  小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF  试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。( ION MIGRATION TESTING )

在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。

适用规格 : JPCA- - ET01- - 2001