离子迁移试验装置：高压、高速、高精度，引*离子迁移测试新标准

  2026年重磅发布 – 在离子迁移测试领域，测试速度、电压能力与通道效率往往是用户最关注的三大核心指标。为满足更高标准的研发与质量控制需求，J-RAS 正式推出全新的 ECMr-500 系列离子迁移试验装置，一款融合两大经典机型技术优势、兼具高电压与高采样效率的新一代整合型设备。

 主要优势速览

 最高 500V 电压施加能力，满足更高耐压要求的迁移测试  

 16ms 高速同步采样，全通道并行数据采集无延迟  

 高边测量方式，大幅简化样品连接，提升测试效率与可靠性

 产品定位：整合创新，性能跃升

 ECMr-500 系列是 J-RAS 在离子迁移测试领域的技术集大成者。它融合了前代机型 ECM-100 的全通道高速同步采样能力 与 ECM-500 的 500V 高电压施加能力，真正实现了一机多能、性能不妥协的设计理念。

无论是用于 PCB、半导体、封装材料，还是其他高绝缘材料的离子迁移测试，ECMr-500 都能提供稳定、精准、可追溯的测试数据。

 核心技术参数一览

 机箱型号与规格

 40CH 机箱：ECMr-500/40-n，最多安装 4 个测量单元  

 100CH 机箱：ECMr-500/100-n，最多安装 10 个测量单元  

 直流偏置电压

 电压量程：2 档（1.0～30.0V / 30.1～500.0V）  

 设定分辨率：0.1V  

 设定精度：±（0.3%（F.S.）+ 0.5）V  

 最大输出电流：700μA/CH  

 电流测量

 测量方式：通道独立高边电流测量  

 测量量程：5 档（500μA / 50μA / 2.5μA / 125nA / 6.25nA）  

 测量分辨率：*低 1pA，显示 4 位有效数字  

 测量速度：16ms / 10CH  

 数据记录与控制

 测试时间：1 分钟 ～ 9999 小时  

 记录间隔：*低 16ms（ECM 模式）  

 记录媒介：CF 卡  

 通信接口：Ethernet ×1、RS232C ×2  

 安全控制：无电压接点输入 ×4（互锁/紧急停止）  

 适用场景与用户价值

 ECMr-500 系列特别适用于以下应用场景：

 高电压离子迁移测试（如汽车电子、功率模块、高密度封装）  

 多通道并行测试（如材料筛选、长期可靠性评估）  

 环境试验箱联动测试（温湿度偏压组合测试）  

 其高边测量设计显著降低了样品接线的复杂度，支持通道单独设定电压与量程，极大提升了测试灵活性与效率。

 总结：为下一代电子可靠性而生

  J-RAS ECMr-500 系列不仅是一款离子迁移试验装置，更是一套面向未来电子元器件可靠性验证的高性能平台。它以 500V 高压能力、16ms 高速采样、最多100通道的扩展能力，为研发与质检工程师提供了前*未有的测试自由度与数据精度。

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