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平山中国代理高加速寿命试验箱-PC-702R8 采用双槽结构及干湿球温湿度控制方式，主要用于电子元器件、半导体器件的加速寿命测试和失效分析。设备支持饱和（STD）及不饱和（HUM）两种试验模式，可满足IEC、JESD、AEC-Q100及GB/T2423.40等行业标准。具备多重安全保护及40个电压施加端子，适用于半导体、汽车电子及材料可靠性研究。

HIRAYAMA高加速寿命试验箱-PC-422R8D，HIRAYAMA的双箱体系统精度高，测试箱体和蒸汽发生器相互合作，独立动作，与单箱体系统蒸汽在测试箱体内生成不同。测试箱体（干）与蒸汽发生器（湿）阀温度的相互干就达到了*低。

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