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100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出(抵抗値データと同時計測も可能)
CH個別電源搭載&CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加
CH個別電源搭載&CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能
機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し
短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従
トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現(計測側)
専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能
5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能
⾼電圧デバイスの絶縁信頼性評価、パワーモジュールの連続耐圧評価、プリント基板の耐マイグレーション性能評価、その他⾼電圧部品の絶縁信頼性評価。
メイン画面

テキストデータ画面

グラフ画面

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対応OS:WindowsXp、7、8、10




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