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离子迁移现象的捕捉

  • 发布日期:2021-08-19      浏览次数:1124
    • 什么是离子迁移现象?

      形成枝晶是电极间短路的现象。

      离子迁移现象的特征:

      会在良好的绝缘的状态下突然发生。

      短路的瞬间,因为自身电流的能量(焦耳热),枝晶被烧损,然后恢复绝缘电阻。

      所以很容易变成瞬间的绝缘劣化现象。

       

      离子迁移的信赖性试验的作用:

      在某些领域是重大故障

      即便是瞬间的短路现象,在现在高速数字化处理电路中诱发错误动作,在某些情况,有发展成为重大故障的风险。

       

      试验方法是否有效?

      现广泛被使用的槽外计测,离子迁移现象是检测不出的。所以,NG的测试样品也直接被认定OK了。

       

      市面上的迁移试验装置是否都能进行准确检测?

      离子迁移是瞬间现象。即便是持续的监视试验装置,通道扫描或数据处理需要一定时间,正确地捕捉现象进行适当的处理就变得很难。

       

      作为试验装置的重要事项

      有能力准确检测出发生枝晶的瞬间短路现象。

      在多个样品同时测试中,什么时候哪个样品发生离子迁移,都可以检测到。

      为了预防枝晶烧损,显微镜观察时等的证据可以查看。

       

      高速抽样处理

      J-RAS是业界最高速,16msec62.5S/s)。

      能够进行离子迁移的瞬间现象捕捉。

      不只是单一的短路现象事件,而是作为电阻值的连续数据被记录。

       

      因离子迁移现象导致的电阻值变化如以下情况:

      1.jpg

      高速抽样处理的情况:

      抽样处理慢的情况:

      高速与普通处理,检测结果有很大偏差:

      全部通道同时抽样处理:

      J-RAS是所有通道的数据同时抽样处理。

      假如离子迁移现象同时多个通道发生,数据也不会漏掉。更准确高效得检测样品。

      多个通道同时发生离子迁移现象的情况如下:

      5.jpg

      单一AD扫描的话,与通道数成反比例,发生通道数越多越不准确。

      每个通道都分别配有AD,可以同时监测所有通道。

       

      J-RAS的模拟电路能够防止枝晶烧损

      设备配有电流限制电路,即便枝晶短路,也不会给样品输入超范围的电力。

      高速16msec的抽样处理,及时检出电阻值低下,把模拟电路的偏压输出功率及时停止。(根据判定条件设定)

       

      高速、多通道同时抽样,J-RAS能够大量数据并行处理。

       

      简而言之,J-RAS设备的高速、多通道并行处理,能够更可靠的检测出迁移现象。