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  • HVUα_1000VCAF试验
    HVUα_1000VCAF试验
    CAF试验/CAF测试是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ),经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ),并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
    更新时间:2022-09-20    访问量:837    型号:HVUα_1000V
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  • HVUα_3000V离子迁移试验设备
    HVUα_3000V离子迁移试验设备
    离子迁移试验设备,在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。
    更新时间:2022-08-09    访问量:77    型号:HVUα_3000V
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  • HVUα_2000V离子迁移实验装置
    HVUα_2000V离子迁移实验装置
    离子迁移实验装置 原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压 , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生 , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
    更新时间:2022-08-09    访问量:71    型号:HVUα_2000V
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  • HVUα_1000V离子迁移实验装置 绝缘可靠性评估
    HVUα_1000V离子迁移实验装置 绝缘可靠性评估
    离子迁移实验装置 绝缘可靠性评估,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压 , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生 , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
    更新时间:2022-07-20    访问量:121    型号:HVUα_1000V
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  • ECM-500离子迁移实验装置绝缘电阻值测试
    ECM-500离子迁移实验装置绝缘电阻值测试
    离子迁移实验装置绝缘电阻值测试,在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。
    更新时间:2022-07-20    访问量:106    型号:ECM-500
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  • ECM-100离子迁移实验装置
    ECM-100离子迁移实验装置
    离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压, 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生, 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
    更新时间:2022-07-20    访问量:121    型号:ECM-100
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