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  • ECM-100J-RAS代理
    ECM-100J-RAS代理
    J-RAS代理离子迁移试验装置CAF测试是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
    访问量:231    厂商性质:生产厂家    更新时间:2022-05-12
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  • ECM-100日本J-RAS绝缘劣化试验
    ECM-100日本J-RAS绝缘劣化试验
    离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。日本J-RAS绝缘劣化试验
    访问量:324    厂商性质:生产厂家    更新时间:2021-09-22
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  • ECM-100导通电阻试验装置
    ECM-100导通电阻试验装置
    导通电阻试验装置 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
    访问量:167    厂商性质:生产厂家    更新时间:2022-05-12
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  • HVUα_1000VCAF试验
    HVUα_1000VCAF试验
    CAF试验是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ),经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ),并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
    访问量:283    厂商性质:生产厂家    更新时间:2021-09-22
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  • HVUα_3000V离子迁移试验装置
    HVUα_3000V离子迁移试验装置
    离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。( ION MIGRATION TEST......
    访问量:109    厂商性质:生产厂家    更新时间:2022-05-17
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  • HVUα_2000V离子迁移实验装置
    HVUα_2000V离子迁移实验装置
    离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。( ION MIGRATION TEST......
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