HIRAYAMA中国代理商高加速寿命试验箱具备 非饱和/饱和控制 两种模式。具备可记录150个程序的控制器，操作简单方便。箱门采用按钮式，试验中自动锁紧，安全可靠。通过缓降压、排气、排水系统控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确。

平山HIRAYAMA中国代理商高压蒸煮试验箱 PC-242HSR2该设备采用压力蒸煮试验方法(PCT)，主要用于电子元器件及机械零件的摩耗分析、使用寿命评估，以及失效率上升原因的调查研究。该设备通过高压蒸煮试验方法有效缩短试验时间，提高试验效率。

平山中国代理高加速寿命试验箱PC-702R8 采用双槽结构及干湿球温湿度控制方式，主要用于电子元器件、半导体器件的加速寿命测试和失效分析。设备支持饱和（STD）及不饱和（HUM）两种试验模式，可满足IEC、JESD、AEC-Q100及GB/T2423.40等行业标准。具备多重安全保护及40个电压施加端子，适用于半导体、汽车电子及材料可靠性研究。

平山中国代理高加速寿命试验箱PC-422R8D，HIRAYAMA的双箱体系统精度高，测试箱体和蒸汽发生器相互合作，独立动作，与单箱体系统蒸汽在测试箱体内生成不同。测试箱体（干）与蒸汽发生器（湿）阀温度的相互干就达到了*低。

HIRAYAMA平山中国代理高加速寿命试验箱 采用双槽结构及干湿球温湿度控制方式，主要用于电子元器件、半导体器件的加速寿命测试和失效分析。设备支持饱和（STD）及不饱和（HUM）两种试验模式，可满足IEC、JESD、AEC-Q100及GB/T2423.40等行业标准。具备多重安全保护及40个电压施加端子，适用于半导体、汽车电子及材料可靠性研究。

平山HIRAYAMA中国代理高压蒸煮试验箱 PC-242HSR2该设备采用压力蒸煮试验方法(PCT)，主要用于电子元器件及机械零件的摩耗分析、使用寿命评估，以及失效率上升原因的调查研究。该设备通过高压蒸煮试验方法有效缩短试验时间，提高试验效率。