离子迁移测试|CAF测试|世纪天源仪器

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J-RAS中国代理商离子迁移试验装置（CAF）
J-RAS中国代理商离子迁移试验装置（CAF）是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压, 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生, 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

产品型号：
ECM-100

厂商性质：
代理商

更新时间：
2026-02-05

浏览次数：
255
J-RAS ECMr离子迁移试验装置
J-RAS ECMr离子迁移试验装置，在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。离子迁移实验装置绝缘可靠性评估，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压 , 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生 , 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF 试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHO

产品型号：
ECMr-1000-n/ECMr-2000-n

厂商性质：
代理商

更新时间：
2025-12-03

浏览次数：
5338
J-RAS离子迁移试验装置（CAF）
J-RAS离子迁移试验装置（CAF），在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。

产品型号：
HVUα-3000V

厂商性质：
代理商

更新时间：
2025-12-03

浏览次数：
3170
离子迁移实验装置（CAF）
离子迁移实验装置（CAF）原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压 , 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生 , 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF 试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

产品型号：
HVUα-2000V

厂商性质：
代理商

更新时间：
2025-12-03

浏览次数：
4866
J-RAS离子迁移试验装置
J-RAS离子迁移试验装置绝缘可靠性评估，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压 , 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生 , 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF 试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

产品型号：
HVUα-1000V

厂商性质：
代理商

更新时间：
2025-12-03

浏览次数：
5072
J-RAS离子迁移试验装置（CAF）
J-RAS离子迁移试验装置（CAF）绝缘电阻值测试，在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。

产品型号：
ECM-500

厂商性质：
代理商

更新时间：
2025-12-03

浏览次数：
5893

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