离子迁移测试|CAF测试|世纪天源仪器

产品分类Product Categories

相关文章Related Articles

J-RAS离子迁移试验装置（CAF）
J-RAS离子迁移试验装置（CAF）是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压, 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生, 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

产品型号：
ECM-100

厂商性质：
代理商

更新时间：
2025-12-03

浏览次数：
7325
J-RAS离子迁移试验装置（CAF）
J-RAS代理离子迁移试验装置 CAF测试，J-RAS离子迁移试验装置（CAF）ECM-100是可以单独试验的ALL-IN-ONE检测系统，并且重要的试验数据被保存到CF存储卡。作为系统构成我们准备了40CH/100CH型，可以根据您的预算、设置空间来进行选择。

产品型号：
ECM-100/100-100

厂商性质：
代理商

更新时间：
2025-12-03

浏览次数：
5345
日本J-RAS离子迁移试验装置（CAF）
日本J-RAS离子迁移试验装置（CAF）是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ）, 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ）, 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

产品型号：
ECM-100

厂商性质：
代理商

更新时间：
2025-12-03

浏览次数：
4351
日本J-RAS离子迁移试验装置（CAF）
日本J-RAS离子迁移试验装置（CAF） CAF试验/CAF测试是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ），经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ），并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF 试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

产品型号：
HVUα-1000V

厂商性质：
代理商

更新时间：
2025-12-03

浏览次数：
39236
离子迁移测试装置（CAF）
ECM-100离子迁移测试装置（CAF）是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ）, 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ）。

产品型号：
ECM-100

厂商性质：
代理商

更新时间：
2025-12-03

浏览次数：
16714
3000V离子迁移试验装置
3000V离子迁移试验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ）,经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ）, 并记录电阻值变化状况。在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。$n适用规格： JPCA- - ET01-

产品型号：
HVUα_3000V

厂商性质：
代理商

更新时间：
2025-12-03

浏览次数：
2560

共 31 条记录，当前 5 / 6 页首页上一页下一页末页跳转到第页