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德国BRUKER中国代理椭偏仪/膜厚仪

简要描述:德国BRUKER中国代理椭偏仪/膜厚仪基于非接触式光学技术,集成光谱反射、光谱椭偏及多角度联用等多种配置,内置先*材料模型与全局优化算法,可快速、无损、高精度同步测定薄膜厚度、折射率、消光系数等参数。专*MADP与DPSD技术实现折射率分辨率高达2×10⁻⁵,测量范围覆盖从亚原子层到超百微米厚度。广泛应用于半导体、光电子、先*封装及硅光子学等领域,为薄膜表征提供精准可靠的解决方案。

  • 更新时间:2026-03-16
  • 访  问  量:12
  • 厂商性质:代理商
  • 产品型号:FilmTek 2000
品牌其他品牌产地进口
加工定制

德国BRUKER中国代理椭偏仪/膜厚仪基于非接触式光学技术,集成光谱反射、光谱椭偏及多角度联用等多种配置,内置先*材料模型与全局优化算法,可快速、无损、高精度同步测定薄膜厚度、折射率、消光系数等参数。专*MADP与DPSD技术实现折射率分辨率高达2×10⁻⁵,测量范围覆盖从亚原子层到超百微米厚度。广泛应用于半导体、光电子、先*封装及硅光子学等领域,为薄膜表征提供精准可靠的解决方案。

德国BRUKER中国代理椭偏仪/膜厚仪产品线简介 布鲁克FilmTek薄膜光学测量系统基于非接触式光学技术,内置多种材料模型与先*的全局优化算法,可快速、无损 且高精度的同步测定多个薄膜参数,如薄膜厚度、折射率、消光系数等。 FilmTek薄膜测量系统包括光谱反射式、光谱椭偏式和多角度反射/椭偏联用式。光谱反射式可用于测量从几纳米到 超过100微米的薄层厚度和光学特性,还可测量Via、沟槽结构的深度。光谱椭偏式能够测量更薄的薄膜,*薄可至单 个原子层以下,此外还能提供样品介电特性的高精度、可重复测量结果。多角度反射 / 椭偏联用式,在薄膜厚度和折射 率的准确度与重复性方面达到同类*佳,折射率分辨率可达2x10-5,可实现从超薄膜到厚膜的折射率与厚度测量,非 常适用于测量超薄膜、多层薄膜堆叠以及对折射率分辨率有*高要求的材料。

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世纪天源(香港)有限公司,英文(简称SKYAN)。是一家立足于研发测试领域,集仪器销售、租赁、技术咨询、维修服务于一体的型企业。是中国印制电

路行业协会(CPCA)会员企业。公司位于香港,营运中心设在深圳,在日本东京拥有子公司,在新加披、越南、泰国英国设有商务和销售据点,在中国上海、苏州、青岛、武汉、成都、厦门等设有营业网点全国设有多家授权分销商。

SKYAN公司是日本 HIRAYAMA 株式会社工业设备的海外销售中心--成立于1990年的新加坡 HMC SALES & SERVICE PTE LTD(HIRAYAMA FACTORYSUPPORT CENTRE)在中国的关联企业;是cosmopia环测(COSMOPIA)的中国代理商;是日本J-RAS 株式会社的中国大陆代理商:同时,还是东扬精测、HORIBA岩崎电气、三井电气精机等日本企业的战略合作伙伴。

公司奉行“引入先进,成就品质,创造价值,诚信服务"的经营理念,以客户的需求为出发点,凭借高精密的设备和专业的团队,致力于为客户提供进口的高性能、高精度、高专业性等更高可靠度的

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公司聚焦固态电池开发,定期举办测试技术中日研讨会,邀请著名企事业单位、中日专家进行技术交流,致力于为客户提供更前沿的技术服务,为客户量身订制最合适的解决方案。

SKYAN秉承着企业理念:专业、优质、双赢;敢想就敢有!



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