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  • ContourX-500德国BRUKER中国代理白光干涉仪
    ContourX-500德国BRUKER中国代理白光干涉仪
    德国BRUKER中国代理白光干涉仪ContourX-500：具备性价比的ContourX-200光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。占地面积小，融合了布鲁克几十年的专*白光干涉（WLI）创新技术，具有强大的二维/三维高分辨测量能力。
    更新时间：2026-04-15    访问量：67    型号：ContourX-500
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  • FilmTek 2000德国布鲁克中国代理商薄膜光学测量系统
    FilmTek 2000德国布鲁克中国代理商薄膜光学测量系统
    德国布鲁克中国代理商薄膜光学测量系统基于非接触式光学技术，集成光谱反射、光谱椭偏及多角度联用等多种配置，内置先*材料模型与全局优化算法，可快速、无损、高精度同步测定薄膜厚度、折射率、消光系数等参数。专*MADP与DPSD技术实现折射率分辨率高达2×10⁻⁵，测量范围覆盖从亚原子层到超百微米厚度。广泛应用于半导体、光电子、先*封装及硅光子学等领域，为薄膜表征提供精准可靠的解决方案。
    更新时间：2026-04-09    访问量：73    型号：FilmTek 2000
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  • 德国布鲁克中国代理白光干涉仪ContourX-500
    德国布鲁克中国代理白光干涉仪ContourX-500
    德国布鲁克中国代理白光干涉仪ContourX-500：具备性价比的ContourX-200光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。占地面积小，融合了布鲁克几十年的专*白光干涉（WLI）创新技术，具有强大的二维/三维高分辨测量能力。
    更新时间：2026-04-09    访问量：80    型号：
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  • 德国BRUKER纳米力学测试系统中国代理TI990
    德国BRUKER纳米力学测试系统中国代理TI990
    德国BRUKER纳米力学测试系统中国代理TI990： 该产品具有超凡的性能、精度、可靠性和通用性，可实现纳米级和微米级定量力学和摩擦学表征。Hysitron产品线**的纳米力学测试系统采用多种**技术，能够在其他系统无法达到的尺度上实现定量表征。
    更新时间：2026-04-08    访问量：57    型号：
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  • 德国BRUKER薄膜光学测量系统FilmTek 2000
    德国BRUKER薄膜光学测量系统FilmTek 2000
    德国BRUKER薄膜光学测量系统FilmTek 2000基于非接触式光学技术，集成光谱反射、光谱椭偏及多角度联用等多种配置，内置先*材料模型与全局优化算法，可快速、无损、高精度同步测定薄膜厚度、折射率、消光系数等参数。专*MADP与DPSD技术实现折射率分辨率高达2×10⁻⁵，测量范围覆盖从亚原子层到超百微米厚度。广泛应用于半导体、光电子、封装及硅光子学等领域，为薄膜表征提供精准可靠的解决方案。
    更新时间：2026-04-03    访问量：84    型号：
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  • RUKER中国代理商白光干涉仪ContourX-1000
    RUKER中国代理商白光干涉仪ContourX-1000
    德国BRUKER中国代理商白光干涉仪ContourX-1000，专为高效获取高精度三维表面纹理与粗糙度测量而设计。该系统融合了布鲁克三十余年的技术创新与全新专有软件，在保持优异测量效率和高重复性的同时，进一步简化操作流程。其凭借出色的稳定性与易用性，可广泛应用于各类精密表面计量场景。
    更新时间：2026-04-03    访问量：84    型号：
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