精品推荐 RECOMMEND PRODUCTS
高加速寿命试验箱
高加速寿命试验箱:PC-422R9,性能稳定,已经广泛应用于电子零件制造商或与半导体光伏、电路板等相关的使用者;以及塑料、橡胶、黏合剂和电镀材料相关的制造商或使用者的相关科研实验室,在同类产品中始终处...

高加速寿命试验箱

恒温箱、干燥箱(送风定温恒湿箱)
恒温箱、干燥箱(送风定温恒湿箱)送风定温恒湿箱DKN412C■操作性 · 功能● 易操作,定值运行、程序运行、快速自动停止运行、自动停止运行、自动开始运行均可实现。● 可通过专用的功能菜单键...

恒温箱、干燥箱(送风定温恒湿箱)

导通电阻试验装置
导通电阻试验装置 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。

导通电阻试验装置

HIRAYAMA高加速寿命试验箱
HIRAYAMA公司专业从事研发、生产、销售、高压杀菌器,医疗设备,HIRAYAMA高加速寿命试验箱 HAST/PCT设备。高加速寿命试验箱

HIRAYAMA高加速寿命试验箱

日本hitachi(cosmopia)液槽冲击试验箱
日本hitachi(cosmopia)液槽冲击试验箱(冷热冲击试验机)采用涡旋式压缩机,使其在低温领域也能实现高效和稳定的运行。不论是在提高各类产品的可靠性方面还是在食品、化学、医药领域的实验研究方面...

日本hitachi(cosmopia)液槽冲击试验箱

日本hitachi(cosmopia)恒温恒湿箱
日本hitachi(cosmopia)恒温恒湿箱,恒湿恒温箱是指能同时施加温度、湿度应力的试验箱,用于检测材料在各种环境下性能的设备及试验各种材料耐热、耐寒、耐干、耐湿性能。

日本hitachi(cosmopia)恒温恒湿箱

J-RAS离子迁移试验装置(CAF)
J-RAS离子迁移试验装置(CAF)是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压, 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生, 并记录电阻值变化状况...

J-RAS离子迁移试验装置(CAF)

日本hitachi(cosmopia)冷热冲击试验箱
日本hitachi(cosmopia)冷热冲击试验箱为进口的冷热冲击试验箱,可根据用户要求设计制造,适用于航空、航太、军工、舰船、电工、电子等产品整机及零部件的高低温冲击试验及高温或低温环境下的贮存和...

日本hitachi(cosmopia)冷热冲击试验箱

J-RAS ECMr离子迁移试验装置
J-RAS ECMr离子迁移试验装置,在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。离子迁移实验装置 绝缘可靠性评估,原理为印刷电路板上给予一固定...

J-RAS ECMr离子迁移试验装置

高加速寿命试验箱
HIRAYAMA高加速寿命试验箱具备 非饱和/饱和控制 两种模式。具备可记录150个程序的控制器,操作简单方便。箱门采用按钮式,试验中自动锁紧,安全可靠。通过缓降压、排气、排水系统控制避免试验结束后压...

高加速寿命试验箱

高加速寿命试验箱
HIRAYAMA公司位于日本埼玉县春日部市,于1924年1月成立,专业从事研发、生产、销售HAST/PCT设备。其生产的HAST/PCT设备种类齐全,性能稳定,已经广泛应用于电子零件制造商或与半导体光...

高加速寿命试验箱

关于我们
深圳市世纪天源仪器有限公司
世纪天源(香港)有限公司,英文(简称SKYAN)。是一家立足于研发测试领域,集仪器销售、租赁、技术咨询、维修服务于一体的高新技术型企业。是中国印制电路行业协会(CPCA)会员企业。公司位于香港,营运中心设在深圳,在日本东京拥有子公司,在新加披、越南、泰国英国设有商务和销售据点,在中国上海、苏州、青岛、武汉、成都、厦门等设有营业网点全国设有多家授权分销商。SKYAN公司是日本HIRAYAMA株式会社工业设备的海外销售中心--成立于1990年的新加坡HMCSALES&SERVICEPTELTD(HIRAYAMAFACTORYSUPPORTCENTRE)在中国的关联企业;是HITACHI环测(COSMOPIA)的中国代理商;是日本J-RAS株式会社的中国大陆代理商:同时,还是东扬精测、HORIBA岩崎电气、三井电气精机等日本企业的战略合作伙伴。公司奉行“引入先进,成就品质,创造价值,...
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行业资讯 INDUSTRY NEWS
在电子元件、印刷电路板(PCB)及食品接触材料等领域,离子迁移现象已成为影响产品寿命与安全性的核心因素。离子迁移测试通过模拟高温高湿环境,检测材料内部离子迁移引发的绝缘劣化、短路等风险,为产品质量控制提供关键数据支撑。其必要性体现在以下四个层面:一、电子元件与PCB的“可靠性预警系统”绝缘失效的早期发现当PCB或电子元件处于85℃/85%RH的高温高湿环境中,若存在焊剂残留、氯离子污染等,金属离子(如Cu²⁺)会在电场作用下向阴极迁移,形成导电枝晶。离子迁移测试通过持续监测电阻值变化,可在枝晶导

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