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离子迁移实验装置 绝缘可靠性评估

简要描述:离子迁移实验装置 绝缘可靠性评估,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压 , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生 , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。

  • 更新时间:2022-07-20
  • 访  问  量:77
  • 厂商性质:生产厂家
  • 产品型号:HVUα_1000V
品牌其他品牌产地进口
加工定制

离子迁移实验装置 绝缘可靠性评估

产品特点

  • 通过100n秒以下的高速事件测量功能检测部分放电(也可以与电阻值数据同时测量)

  • CH个别电源搭载&CH个别反馈对各样品施加稳定的电压

  • 搭载CH个别电源&CH个别控制可对所有CH设定不同的施加电压

  • 因为没有机械式继电器的扫描,所以连续试验中*和故障

  • 短路检测电路的CH个别搭载也追随瞬间的样品短路

  • 通过三轴电缆的主动保护实现低噪声测量(测量侧)

  • 通过专用软件可以显示图表和收录数据

  • 可按需配置5个通道

用途

高电压器件的绝缘可靠性评价、功率模块的连续耐压评价、印刷电路板的耐迁移性能评价、其他高电压部件的绝缘可靠性评价。

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対応OS:WindowsXp、7、8、10

离子迁移实验装置 绝缘可靠性评估

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