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  • ECM-500离子迁移实验装置
    ECM-500离子迁移实验装置
    ECM-500离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。( ION MIGRATION TEST......
    更新时间:2022-05-17    访问量:721    型号:
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  • ECM-100离子迁移测试装置
    ECM-100离子迁移测试装置
    ECM-100离子迁移测试装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION )。
    更新时间:2023-06-06    访问量:2806    型号:ECM-100
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  • HVUα_3000V3000V离子迁移试验装置
    HVUα_3000V3000V离子迁移试验装置
    3000V离子迁移试验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ),经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况。在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。$n适用规格 : JPCA- - ET01-
    更新时间:2022-05-17    访问量:797    型号:HVUα_3000V
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  • 2000V离子迁移实验装置
    2000V离子迁移实验装置
    2000V离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ),经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ),并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
    更新时间:2022-08-11    访问量:1492    型号:
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  • HVUα_1000V1000V离子迁移实验装置
    HVUα_1000V1000V离子迁移实验装置
    1000V离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
    更新时间:2022-05-17    访问量:702    型号:HVUα_1000V
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  • 日本J-RAS 500V离子迁移实验装置
    日本J-RAS 500V离子迁移实验装置
    日本J-RAS 500V离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
    更新时间:2022-08-11    访问量:842    型号:
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