J-RAS离子迁移试验装置（CAF）是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ），经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ），并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

J-RAS中国总代CAF离子迁移测试装置ECMr-500（2026年发布）集成两大经典机型优势，支持最高500V迁移测试与16ms高速采样。采用高边测量方式，实现高效样品连接。提供40/100通道机箱，电阻测量范围2kΩ～10TΩ，电压设定分辨率0.1V，电流测量最*达p*级精度。适用于高可靠性离子迁移分析。