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日本J-RAS
J-RAS
离子迁移试验装置(CAF)
导通电阻试验装置(RTM)
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HAST试验箱是专为塑封固态器件而设计的
高加速寿命试验箱需满足这些要求才能进行试验
离子迁移测试的目的你知道是是什么吗?
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ECM-100J-RAS代理
J-RAS代理离子迁移试验装置CAF测试是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
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厂商性质:
生产厂家
更新时间:
2022-05-12
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