离子迁移测试|CAF测试|世纪天源仪器

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J-RAS中国总代高压离子迁移ECMr系列
J-RAS中国总代高压离子迁移ECMr系列ECMr-500（2026年发布）集成两大经典机型优势，支持最高500V迁移测试与16ms高速采样。采用高边测量方式，实现高效样品连接。提供40/100通道机箱，电阻测量范围2kΩ～10TΩ，电压设定分辨率0.1V，电流测量最*达p*级精度。适用于高可靠性离子迁移分析。

产品型号：
ECMr500系列

厂商性质：
代理商

更新时间：
2026-06-01

浏览次数：
111
J-RAS 离子迁移试验装置中国总代
J-RAS 离子迁移试验装置中国总代ECMr-1000高压绝缘可靠性测试仪，支持最高2kV电压输出，每通道可独立设置5V～2kV。采用高边测量与全通道同步采样，遇漏电或短路可快速关断。具备紧急停止、联锁等多重安全机制，可不依赖PC独立测试，数据存储于CF卡。机身小巧，单台最大100通道，一台PC可扩展控制400通道（支持与ECMr-500混搭），适用于高压绝缘可靠性评估。

产品型号：

厂商性质：
代理商

更新时间：
2026-06-04

浏览次数：
78
J-RAS中国总代离子迁移试验仪（CAF）
J-RAS中国总代离子迁移试验仪（CAF）是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压, 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生, 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

产品型号：
ECM-100

厂商性质：
代理商

更新时间：
2026-05-25

浏览次数：
66
J-RAS中国总代CAF离子迁移测试仪
J-RAS中国总代CAF离子迁移测试仪ECMr-500（2026年发布）集成两大经典机型优势，支持最高500V迁移测试与16ms高速采样。采用高边测量方式，实现高效样品连接。提供40/100通道机箱，电阻测量范围2kΩ～10TΩ，电压设定分辨率0.1V，电流测量最*达p*级精度。适用于高可靠性离子迁移分析。

产品型号：
ECMr-500

厂商性质：
代理商

更新时间：
2026-05-25

浏览次数：
59
J-RAS 中国总代离子迁移试验装置ECMr-1000
J-RAS 中国总代离子迁移试验装置ECMr-1000高压绝缘可靠性测试仪，支持最高2kV电压输出，每通道可独立设置5V～2kV。采用高边测量与全通道同步采样，遇漏电或短路可快速关断。具备紧急停止、联锁等多重安全机制，可不依赖PC独立测试，数据存储于CF卡。机身小巧，单台最大100通道，一台PC可扩展控制400通道（支持与ECMr-500混搭），适用于高压绝缘可靠性评估。

产品型号：
ECMr-1000-n

厂商性质：
代理商

更新时间：
2026-05-20

浏览次数：
79
J-RAS 中国总代离子迁移试验装置ECMr-500
J-RAS 中国总代离子迁移试验装置ECMr-500（2026年发布）集成两大经典机型优势，支持最高500V迁移测试与16ms高速采样。采用高边测量方式，实现高效样品连接。提供40/100通道机箱，电阻测量范围2kΩ～10TΩ，电压设定分辨率0.1V，电流测量最*达p*级精度。适用于高可靠性离子迁移分析。

产品型号：
ECMr-500/40-n

厂商性质：
代理商

更新时间：
2026-05-20

浏览次数：
73

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