产品展示您现在的位置: 首页 > 产品展示 > 日本J-RAS >离子迁移试验装置(CAF)
  • HVUα_1000VCAF试验
    HVUα_1000VCAF试验
    CAF试验是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ),经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ),并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
    访问量:282    厂商性质:生产厂家    更新时间:2021-09-22
    查看详情
  • ECM-100离子迁移测试装置
    ECM-100离子迁移测试装置
    离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。( ION MIGRATION TESTING )......
    访问量:227    厂商性质:生产厂家    更新时间:2022-05-17
    查看详情
  • HVUα_3000V3000V离子迁移试验装置
    HVUα_3000V3000V离子迁移试验装置
    3000V离子迁移试验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ),经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况。在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。$n适用规格 : JPCA- - ET01-
    访问量:186    厂商性质:生产厂家    更新时间:2022-05-17
    查看详情
  • HVUα_2000V2000V离子迁移实验装置
    HVUα_2000V2000V离子迁移实验装置
    2000V离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
    访问量:160    厂商性质:生产厂家    更新时间:2022-05-17
    查看详情
  • HVUα_1000V1000V离子迁移实验装置
    HVUα_1000V1000V离子迁移实验装置
    1000V离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
    访问量:155    厂商性质:生产厂家    更新时间:2022-05-17
    查看详情
  • ECM-500日本J-RAS 500V离子迁移实验装置
    ECM-500日本J-RAS 500V离子迁移实验装置
    日本J-RAS 500V离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), , 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
    访问量:139    厂商性质:生产厂家    更新时间:2022-05-17
    查看详情
共 7 条记录,当前 1 / 2 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页