J-RAS中国总代离子迁移试验装置（CAF）是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压, 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生, 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

J-RAS 中国代理离子迁移试验装置ECMr-1000高压绝缘可靠性测试仪，支持最高2kV电压输出，每通道可独立设置5V～2kV。采用高边测量与全通道同步采样，遇漏电或短路可快速关断。具备紧急停止、联锁等多重安全机制，可不依赖PC独立测试，数据存储于CF卡。机身小巧，单台最大100通道，一台PC可扩展控制400通道（支持与ECMr-500混搭），适用于高压绝缘可靠性评估。

J-RAS 中国代理CAF试验装置ECMr-500（2026年发布）集成两大经典机型优势，支持最高500V迁移测试与16ms高速采样。采用高边测量方式，实现高效样品连接。提供40/100通道机箱，电阻测量范围2kΩ～10TΩ，电压设定分辨率0.1V，电流测量最*达p*级精度。适用于高可靠性离子迁移分析。

J-RAS 中国代理离子迁移试验装置ECMr-500（2026年发布）集成两大经典机型优势，支持最高500V迁移测试与16ms高速采样。采用高边测量方式，实现高效样品连接。提供40/100通道机箱，电阻测量范围2kΩ～10TΩ，电压设定分辨率0.1V，电流测量最*达p*级精度。适用于高可靠性离子迁移分析。

J-RAS中国代理商导通电阻试验装置RTm-100记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

J-RAS中国代理商导通电阻试验装置RTm-30DC并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。