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2000V离子迁移实验装置

简要描述:2000V离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ),经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ),并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。

  • 更新时间:2022-08-11
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品牌其他品牌产地进口
加工定制

高電圧絶縁計測+100n秒以下の高速イベント収録
高電圧絶縁信頼性試験装置 HVUαシリーズ

HVUα本体

製品の特⻑

  • 100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出(抵抗値データと同時計測も可能)

  • CH個別電源搭載&CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加

  • CH個別電源搭載&CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能

  • 機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し

  • 短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従

  • トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現(計測側)

  • 専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能

  • 5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能

用途

⾼電圧デバイスの絶縁信頼性評価、パワーモジュールの連続耐圧評価、プリント基板の耐マイグレーション性能評価、その他⾼電圧部品の絶縁信頼性評価。

  • メイン画面

  • HVUαメイン画面

  • テキストデータ画面

  • HVUαテキストデータ画面

  • グラフ画面

  • HVUαグラフ画面

  • ログ表示

  • HVUαログ表示

対応OS:WindowsXp、7、8、10

 

 

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