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日本J-RAS离子迁移试验装置(CAF)

简要描述:日本J-RAS离子迁移试验装置(CAF)是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。

  • 更新时间:2024-10-14
  • 访  问  量:2993
  • 厂商性质:代理商
  • 产品型号:ECM-100
品牌其他品牌产地进口
加工定制

日本J-RAS离子迁移试验装置(CAF)

离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ~1000  小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。


产品优势  

1.简单/便利

△采用驱动计测,测试时焊接工序大幅减少。

△软件设计简单明了,能够非常直观得操作。

△配有过程中的记录、报告相关的报表功能。

△测试中,设备可以单独运行,电脑电源切断也不受影响。

2.高性能&高机能

△因为每个通道都单独配有电压/计测电路,可以做到16ms的计测间隔。

→迁移现象的检测能力更高,对产品品质把控更精准。

△一台电脑最大可以增设400通道。

△每个通道可以设定不同的电压。

3.可靠性更高&操作更简洁

△具有自身诊断机能,把异常计测防范于未然。

△配有CF卡,以防设备故障数据丢失。

△每个单元独立,其中一个单元损坏,可以单独拆卸维修,而不影响其他通道使用。

△标准配置也可以接入1~300V的电压范围。

用途

△PCB板、焊接、树脂、导电性粘着剂、绝缘材料等电迁移测试。

△作为高性能/多通道绝缘电阻测试装置,可以在多领域利用。

实例

△测试难度大的高阻值也能除去干扰,清晰得进行测试。

△16msec的高速抽样处理,不会漏掉任何一个数据。

△电容器等绝缘电阻的试验也非常合适。

日本J-RAS离子迁移试验装置(CAF)

日本J-RAS离子迁移试验装置(CAF)


世纪天源(香港)有限公司,英文(简称SKYAN)。是一家立足于研发测试领域,集仪器销售、租赁、技术咨询、维修服务于一体的型企业。是中国印制电

路行业协会(CPCA)会员企业。公司位于香港,营运中心设在深圳,在日本东京拥有子公司,在新加披、越南、泰国英国设有商务和销售据点,在中国上海、苏州、青岛、武汉、成都、厦门等设有营业网点全国设有多家授权分销商。

SKYAN公司是日本 HIRAYAMA 株式会社工业设备的海外销售中心--成立于1990年的新加坡 HMC SALES & SERVICE PTE LTD(HIRAYAMA FACTORYSUPPORT CENTRE)在中国的关联企业;是HITACHI环测(COSMOPIA)的中国代理商;是日本J-RAS 株式会社的中国大陆代理商:同时,还是东扬精测、HORIBA岩崎电气、三井电气精机等日本企业的战略合作伙伴。

公司奉行“引入先进,成就品质,创造价值,诚信服务"的经营理念,以客户的需求为出发点,凭借高精密的设备和专业的团队,致力于为客户提供进口的高性能、高精度、高专业性等更高可靠度的

优质产品及更优质的客户服务,协助客户实现其价值的优化。

公司聚焦固态电池开发,定期举办测试技术中日研讨会,邀请著名企事业单位、中日专家进行技术交流,致力于为客户提供更前沿的技术服务,为客户量身订制最合适的解决方案。

SKYAN秉承着企业理念:专业、优质、双赢;敢想就敢有!


 

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