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离子迁移试验设备

简要描述:离子迁移试验设备,在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。

  • 更新时间:2022-08-09
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  • 厂商性质:生产厂家
  • 产品型号:HVUα_3000V
品牌其他品牌产地进口
加工定制

离子迁移试验设备

离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), , 经过长时间的测试(1 ~1000  小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), , 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF  试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。( ION MIGRATION TESTING )

适用规格 : JPCA- - ET01- - 2001

通过最大3000v直流偏压,它可以测试TDDB测试、高压离子迁移和绝缘测试,例如高压设备、高压电路板和高压部件。

此外,HVUa系列还可以测试太阳能系统框架和电池之间的漏电。HVUa系列可在每个通道上设置50-3000v的任何电压

离子迁移试验设备

支持测试检测瞬时局部放电的最大30oov

通过每个通道反馈控制精确的输入偏置

在1个系统中扩展最大20Och(5Och x 4case)

通过有源保护电缆进行低噪声测量

通过不使用机械继电器确保高可靠性

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