促销中心您现在的位置: 首页 > 促销中心

热阻测试仪

供应数量:128

发布日期:2022/3/29

有效日期:2022/9/29

已获点击:128

在线咨询 点击收藏

热阻测试仪 

厂家介绍及用途:

产自美国Analysis Tech(Anatech)公司,符合美军标和JEDEC标准.Analysis Tech Inc.成立于1983年,坐落于波士顿北部,是电子封装器件可靠性测试的国际设计,制造公司。创始人John W.Sofia是美国麻省理工的博士,并且是提出焊点可靠性,热阻分析和热导率理论的专家. 发表了很多关于热阻测试于分析,热导率及焊点可靠性方面的论文. Analysis Tech Inc.在美国有独立的实验室提供技术支持.在这套设备有几百家客户.

主要用于测试二极管,三极管,线形调压器,可控硅,LED,MOSFET,MESFET ,IlGBT,IC等分立功率器件的热阻测试及分析。

Phascl2测试来的数据,将产生上图。左上角的数字说明这个器件有四个层次(为了可以清楚的了解不同层次,可以将这个图转换成图三)。其中第一个是芯片下的粘接层的阻抗值,后面Tau是完成的测试时间,四个层次的阻抗值之和就是这个器件的热阻值。并且每一个拐点都表明热进入了一个新

的层次。每个层次的数据将表明这个器件不同层向外散热的好坏,对不同厂家同类产品而言,可以让我们选择热阻值非常好的厂家;同时它也可以检测同一厂家,同类产品,不同批次质量的差异,从而评测出该厂家生产工艺的稳定性。

热阻测试仪 

1)瞬态阻抗(Thermal lmpedance)测试,可以得到从开始加热到结温达到稳定这一过程中的瞬态阻抗

数据。见上图

2)稳态热阻(Thermal Resistance)各项参数的测试,其包括: Rja,Rjb.Rjc,RjI,当器件在给一定的工

作电流后。热量不断地向外扩散,最后达到了热平衡,这时得到的结果是稳态热阻值。在没有达到热平衡之前测试到的是热阻抗。

4)内部封装结构与其散热能力的相关性分析(Structure Function),可以通过将类似的图一转换成下面所

示的曲线分析图(热容与热阻关系图),这样更能体现不同结构下热阻,以LED为例从图中可以看出LED器什散热能力的瓶颈所在,对LED封装T艺的改进和封装材料的选择有很大帮助。下图为两种不同封装结构的LED样品的分析图。

不只LED器件可以得封这个分析图,而且其他的器件也可以得到这个图。并且也可以得到这种分析。

637650742168016506119.jpg