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发布日期:2024/11/23
有效日期:2025/5/23
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日本J-RAS绝缘劣化试验
离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ~1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
产品优势
1.简单/便利
△采用驱动计测,测试时焊接工序大幅减少。
△软件设计简单明了,能够非常直观得操作。
△配有过程中的记录、报告相关的报表功能。
△测试中,设备可以单独运行,电脑电源切断也不受影响。
2.高性能&高机能
△因为每个通道都单独配有电压/计测电路,可以做到16ms的计测间隔。
→迁移现象的检测能力更高,对产品品质把控更精准。
△一台电脑最大可以增设400通道。
△每个通道可以设定不同的电压。
3.可靠性更高&操作更简洁
△具有自身诊断机能,把异常计测防范于未然。
△配有CF卡,以防设备故障数据丢失。
△每个单元独立,其中一个单元损坏,可以单独拆卸维修,而不影响其他通道使用。
△标准配置也可以接入1~300V的电压范围。
用途
△PCB板、焊接、树脂、导电性粘着剂、绝缘材料等电迁移测试。
△作为高性能/多通道绝缘电阻测试装置,可以在多领域利用。
实例
△测试难度大的高阻值也能除去干扰,清晰得进行测试。
△16msec的高速抽样处理,不会漏掉任何一个数据。
△电容器等绝缘电阻的试验也非常合适。
日本J-RAS绝缘劣化试验