促销中心您现在的位置: 首页 > 促销中心

日本J-RAS绝缘劣化试验

供应数量:75

发布日期:2022/3/29

有效日期:2022/9/29

已获点击:75

在线咨询 点击收藏

日本J-RAS绝缘劣化试验


离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ~1000  小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。


产品优势  


1.简单/便利

△采用驱动计测,测试时焊接工序大幅减少。

△软件设计简单明了,能够非常直观得操作。

△配有过程中的记录、报告相关的报表功能。

△测试中,设备可以单独运行,电脑电源切断也不受影响。

 

2.高性能&高机能

△因为每个通道都单独配有电压/计测电路,可以做到16ms的计测间隔。

→迁移现象的检测能力更高,对产品品质把控更精准。

△一台电脑最大可以增设400通道。

△每个通道可以设定不同的电压。

 

3.可靠性更高&操作更简洁

△具有自身诊断机能,把异常计测防范于未然。

△配有CF卡,以防设备故障数据丢失。

△每个单元独立,其中一个单元损坏,可以单独拆卸维修,而不影响其他通道使用。

△标准配置也可以接入1~300V的电压范围。

 

用途

△PCB板、焊接、树脂、导电性粘着剂、绝缘材料等电迁移测试。

△作为高性能/多通道绝缘电阻测试装置,可以在多领域利用。

 

实例

△测试难度大的高阻值也能除去干扰,清晰得进行测试。

△16msec的高速抽样处理,不会漏掉任何一个数据。

△电容器等绝缘电阻的试验也非常合适。

日本J-RAS绝缘劣化试验

637675758480935008737.png