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HVUα_1000V-离子迁移实验装置 绝缘可靠性评估

供应数量:19

发布日期:2022/7/20

有效日期:2023/7/20

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离子迁移实验装置 绝缘可靠性评估

产品特点

  • 通过100n秒以下的高速事件测量功能检测部分放电(也可以与电阻值数据同时测量)




  • CH个别电源搭载&CH个别反馈对各样品施加稳定的电压




  • 搭载CH个别电源&CH个别控制可对所有CH设定不同的施加电压




  • 因为没有机械式继电器的扫描,所以连续试验中*和故障




  • 短路检测电路的CH个别搭载也追随瞬间的样品短路




  • 通过三轴电缆的主动保护实现低噪声测量(测量侧)




  • 通过专用软件可以显示图表和收录数据




  • 可按需配置5个通道

用途

高电压器件的绝缘可靠性评价、功率模块的连续耐压评价、印刷电路板的耐迁移性能评价、其他高电压部件的绝缘可靠性评价。

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対応OS:WindowsXp、7、8、10

离子迁移实验装置 绝缘可靠性评估

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