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高加速寿命试验箱

供应数量:2835

发布日期:2024/7/3

有效日期:2025/1/3

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日本HIRAYAMA高加速寿命试验箱广泛应用于电子零件制造商或半导体、光伏、电路板等相关使用者,以及塑料、橡胶、黏合剂和电镀材料相关的制造商或使用者的相关科研实验室。

产品特点:

1、高效双箱体系统;

2、彩色LCD显示屏;

3、触摸屏输入;

4、信息功能;

HAST适用于密封性能的检测,加速寿命试验,适用于产品的设计及验证阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。

HAST适用于评估储存在高温/高湿度环境中的半导体等电子元件、材料的耐久性或因环境引发的失效性。

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