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日本HIRAYAMA高加速寿命试验箱广泛应用于电子零件制造商或半导体、光伏、电路板等相关使用者，以及塑料、橡胶、黏合剂和电镀材料相关的制造商或使用者的相关科研实验室。
产品特点：
1、高效双箱体系统；
2、彩色LCD显示屏；
3、触摸屏输入；
4、信息功能；
HAST适用于密封性能的检测，加速寿命试验，适用于产品的设计及验证阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。
HAST适用于评估储存在高温/高湿度环境中的半导体等电子元件、材料的耐久性或因环境引发的失效性。
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