日本J-RAS离子迁移试验装置（CAF）是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ）, 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ）, 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

日本J-RAS离子迁移试验装置（CAF） CAF试验/CAF测试是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ），经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ），并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF 试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

3000V离子迁移试验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ）,经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ）, 并记录电阻值变化状况。在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。$n适用规格 ： JPCA- - ET01-

J-RAS离子迁移试验装置（CAF），在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。

J-RAS离子迁移试验装置（CAF）是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压, 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生, 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

J-RAS ECMr离子迁移试验装置，在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。 离子迁移实验装置 绝缘可靠性评估，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压 , 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生 , 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF 试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHO